导电材料的结构变化为什么让电阻器失效?

提到电阻器的失效机理，想必很多人都不知道，其实就是导致电阻失效的物理、化学、热力学或其他过程，电阻失效机理是多方面的，工作条件或环境条件下所发生的各种理化过程是引起电阻老化的原因，其中导电材料的结构是导致其失效的重要原因。接下来我为大家进行详细分析。
薄膜电阻器的导电膜层一般是通过气相沉积得到的，有一定程度的非结晶结构。从热力学的角度来看，无定形结构有结晶的趋势。在T工作条件或环境条件下，导电膜层中的非晶结构趋于以一定的速率结晶，即导电材料的内部结构趋于致密，这往往会导致电阻值下降。结晶速率随温度升高而增加。

  电阻丝或电阻膜在制备过程中会受到机械应力，其内部结构会发生变形。线径越小或薄膜越薄，张力的影响越显着。一般可采用热处理去除内应力。在长期使用过程中，残余内应力可逐渐消除，电阻的阻值可相应变化。

  随着时间的推移，结晶过程和内部应力消除过程都会减慢，但在使用电阻器时不可能完成。可以认为这两个过程在电阻I 操作期间以近似恒定的速度进行，与它们相关的电阻变化代表原始电阻值的千分之几。

  电荷的高温老化： 无论如何，电荷都会加速电阻的老化过程，电荷对电阻加速老化的影响比增加的加速老化影响更显着的温度。原因是电阻体与电缆帽接触部分的温升超过了电阻的平均温升。一般来说，温度每升高10C，使用寿命就会减少一半。如果电阻器因过载而温升超过额定负载。
温升50时，电阻的使用寿命仅为正常情况下寿命的1/32。可通过不到四个月的加速寿命测试，评估10年续航的工作稳定性。直流负荷一电解作用：直流电荷的作用下，电解导致电阻老化。电解发生在开槽电阻的槽内，电阻基体中所含的碱金属离子在槽间的电场中移动，产生离子电流。当有水分时，电解过程变得更加严重。如果电阻膜是碳膜或金属膜，则主要是电解氧化;如果电阻膜是金属氧化膜，则主要是电解还原。对于高强度薄膜电阻，电解的作用会使电阻增加，沿凹槽螺旋侧会发生薄膜损坏。在热闪光环境下进行直流负载测试，可以综合评估电阻器基材和薄膜的抗氧化或还原能力，以及保护层的防潮性能。